我們都知道雷達物位計信號處理的關(guān)鍵是去噪，從而提取有用的信息。有專家根據(jù)調(diào)頻連續(xù)波雷達物位計的原理和信號處理的基本算法和傳統(tǒng)的傅里葉變換信號處理方法對比的方法，提出了小波變換去除回波干擾信號的方法。那么到底小波分析是否可以有效的應用于物位計回波信號分析，提高測量精度呢?我們一起來探究!

近年來，在化工生產(chǎn)過程中，用于測量液位、固體料位和兩種不同密度液體的界面的儀表被稱為液位計、料位計和界面計，統(tǒng)稱為物位儀表。其中，雷達類產(chǎn)品已成為物位儀表市場的主流產(chǎn)品。市場上的雷達物位計種類繁多，今天主要以調(diào)頻連續(xù)波雷達物位計為例來分析。調(diào)頻連續(xù)波雷達物位計的通用原理為雷達在罐頂發(fā)射電磁波，電磁波碰到介質(zhì)反射后被雷達接收，接收信號與發(fā)射信號之間的頻率差與介質(zhì)表面的距離成一定比例關(guān)系。

因為光速和調(diào)頻斜率已知，因此估算出頻率差，便可得到雷達安裝位置料面的距離，再通過已知的罐體總高，減去雷達到料面的空間距離(簡稱空高)，得出料位的高度。

根據(jù)LFMCw雷達測量原理，為了獲得距離信息，首先需要測量差頻信號丘的頻率值。線性調(diào)頻連續(xù)波LFMCw雷達在從目標回波中提取距離信息時，最適合采用快速變換進行處理。微波物位計的測量范圍一般在100m以內(nèi)，所以對發(fā)射功率的要求比較低，只有幾毫瓦，但是測量精度比較高，一般在1cm以內(nèi)，所以系統(tǒng)的頻率穩(wěn)定性和線性度都非常必需的。LFMCw雷達測量物位最簡單的方法是利用FFT求反射波和透射波的頻率差，從而計算出物料高度。該方法的分辨率為r。它與發(fā)射波的掃描頻率帶寬成反比。因此，要實現(xiàn)毫米級分辨率，需要極寬的掃描帶寬，這在技術(shù)上是難以實現(xiàn)的。

因此，直接從FFr得到的離散光譜峰值不能滿足高精度測量的要求，需要采用校正方法來提高精度，但這會給系統(tǒng)增加大量的計算負擔，降低測量精度。傅里葉分析只能得到信號整體的頻譜分析，不能對信號進行局部分析。然而，小波分析不僅在時域和頻域都具有良好的定位特性，而且對高頻分量使用逐漸精細的時域采樣步驟，可以關(guān)注對象的任何細節(jié)。因此，小波變換優(yōu)于傅里葉變換，可以將其可視化為自適應加窗傅里葉變換。與傳統(tǒng)的點目標回波相比，用于提高雷達物位計測量精度的寬帶雷達技術(shù)具有更多更好的局部波動特性，尤其是在被測存儲容器進料或卸料時。電平表的回波信號是瞬態(tài)的，廣義上也是一個非平穩(wěn)過程，因此可以利用小波變換技術(shù)對其進行分析，以提高雷達信號處理的性能。

雷達信號處理的目的是消除干擾，以盡可能高的分辨率顯示目標反射波，并提取有用的參數(shù)。小波變換以其良好的時頻特性被廣泛應用于工程信號處理領(lǐng)域，也為雷達信號處理開辟了一條新途徑。